Temperatuur- en vochtigheidstestkamertechnische parameter
| Model |
(HZ-2004A) 80- 1000Frequentieomrekeningsclimatetoetskas |
| Temperatuurbereik |
-70 graden ~ +100(150) graden |
| Vochtigheidsbereik |
20% tot 98% R.H. |
| Precies/eenvormig |
±0,1 graad ±0,1%R.H./ ±1,0 graad ±3,0%R.H. |
| Genauigheid / volatiliteit |
±1,0 graden ±2,0%R.H. / ±0,5 graden ±2,0%R.H. |
| Verwarming / koeling |
Ongeveer 4,0/min ((warmte), ongeveer 1,0/min ((koel)
de specifieke voorwaarde)
|
| Inwendige materialen |
roestvrij staal SUS 304 # |
| Isolatiemateriaal |
Isolatie-materialen van hoogtemperatuur, met een hoge dichtheid van aminozuur-ethylesterfoom, |
| Koelsysteem |
luchtgekoelde/eenfasige compressor ((-20 graden), wind,
watergekoelde/tweestapscompressor ((-40~-70 graden)
|
| Bescherming |
de compressoroverbelastingsknop, de hogedruk- en laagdrukbeschermingsknop,
schakelaars, zekeringen, waarschuwingssysteem voor bescherming tegen overvochtigheid en temperatuur
|
| Accessoires |
recorder ((aankoop), uitzichtvenster, 50 mm testgat, PL-lamp,
Klapboard, droge en natte gaasbal
|
Temperatuur- en vochtigheidstestkamer Toepasselijke sectoren:
Toegevoegd voor de controle van de productkwaliteit, zoals elektronische, kunststofproducten, elektrische apparaten, instrumenten, voedingsmiddelen, voertuigen, metalen, chemicaliën, bouwmaterialen, luchtvaart,medische zorg enzovoort.
1. Internationale elektrotechnische commissie norm:
IEC68-2-03_testmethode Ca_Steady-humid-heat
IEC68-2-01_testmethode A_cold
IEC68-2-02_testmethode B_droge hitte
2.Amerikaanse standaard voor de halfgeleiderindustrie:
JESD22-A101-B-2004 Test bij constante temperatuur en vochtigheid
JESD22-A103-C-2004 Hoogtemperatuuropslag
JESD22-A119-2004 Lagertest bij lage temperatuur
3Japanse industriële standaard:
JIS C60068-2-3-1987 Testmethode Ca: constante vocht-warmte
JIS C60068-2-2-1995 Testmethode B:droge hitte
JIS C60068-2-1-1995 Testmethode A:lage temperatuur
Uw bericht moet tussen de 20-3.000 tekens bevatten!
