Résumé de l'équipement :
La machine est appliquée pour tester les matériaux en résistance à la chaleur, résistance au froid, résistance à la sécheresse, résistance à l'humidité.Il est simple à utiliser et programme facile à modifier.Il peut afficher les valeurs définies et le temps de fonctionnement.
| Modèle |
(HZ-2004A)80-1000 |
| Écart de température |
-70 degrés ~ +100(150) degrés |
| Plage d'humidité |
20 % ~ 98 % HR |
| Précision/ uniformément |
±0,1 degré ±0,1 % HR/ ±1,0 degré ±3,0 % HR |
| Précision / volatilité |
±1,0 degré ±2,0 % HR / ±0,5 degré ±2,0 % HR |
| Temps de chauffage/refroidissement |
Environ 4,0/min (chaleur), environ 1,0/min (froid) (5 ~ 10/mm est
l'état spécifique)
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| Matériau intérieur |
Acier inoxydable SUS 304 # |
| Matériau d'isolation |
Matériaux d'isolation en mousse d'ester éthylique d'acide aminé haute densité à haute température, |
| Système de refroidissement |
Compresseur refroidi par air/à un étage (-20 degrés), vent,
Refroidi à l'eau/compresseur à deux étages (-40 ~ -70 degrés)
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| protection |
interrupteur de surcharge du compresseur, interrupteur de protection haute et basse pression,
interrupteurs de protection contre la surchauffe, les fusibles, le système d'avertissement
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| Accessoires |
Enregistreur (achat), fenêtre de visualisation, trou de test de 50 mm, lampe PL,
bardeau, boule de gaze sèche et humide
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Secteurs concernés:
Appliqué pour contrôler la qualité des produits, tels que les produits électroniques, les produits en plastique, les appareils électriques, les instruments, les aliments, les véhicules, les métaux, les produits chimiques, les matériaux de construction, l'aérospatiale, les soins médicaux, etc.
1. Norme de la Commission électrotechnique internationale :
IEC68-2-03_méthode de test Ca_Steady humide-chaleur
IEC68-2-01_méthode de test A_froid
IEC68-2-02_méthode d'essai B_chaleur sèche
2. Normes militaires :
3. Norme industrielle japonaise :
Méthode de test JIS C60068-2-3-1987 Ca : Chaleur humide constante
JIS C60068-2-2-1995 méthode d'essai B : chaleur sèche
JIS C60068-2-1-1995 méthode d'essai A : basse température
4. Norme de l'industrie américaine des semi-conducteurs :
JESD22-A101-B-2004 Test de température et d'humidité constantes
Test de stockage à haute température JESD22-A103-C-2004
Test de stockage à basse température JESD22-A119-2004
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