Resumen del equipo:
La máquina se aplica para probar los materiales en resistencia al calor, resistencia al frío, resistencia al secado, resistencia a la humedad.Es simple de operar y el programa es fácil de editar.Puede mostrar los valores establecidos y el tiempo operativo.
| Modelo |
(HZ-2004A)80-1000 |
| Rango de temperatura |
-70 grados ~ +100(150) grados |
| Rango de humedad |
20%~98%HR |
| Precisión/ uniformemente |
±0,1 grado ±0,1% HR/ ±1,0 grado ±3,0% HR |
| Precisión / volatilidad |
±1,0 grado ±2,0% HR / ±0,5 grados ±2,0% HR |
| Tiempo de calentamiento/enfriamiento |
Aproximadamente 4,0/min (calor), aproximadamente 1,0/min (frío) (5~10/mm es
la condición específica)
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| Material interior |
Acero inoxidable SUS 304 # |
| Material de aislamiento |
Materiales de aislamiento de espuma de éster etílico de aminoácidos de alta densidad y alta temperatura, |
| Sistema de refrigeración |
Compresor refrigerado por aire/de una sola etapa (-20 grados), viento,
Refrigerado por agua/compresor de dos etapas (-40~-70 grados)
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| Proteccion |
interruptor de sobrecarga del compresor, interruptor de protección de alta y baja presión,
interruptores de protección contra exceso de humedad y temperatura, fusibles, sistema de advertencia
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| Accesorios |
grabadora (compra), ventana de visualización, orificio de prueba de 50 mm, lámpara PL,
tablilla, bola de gasa seca y húmeda
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Industrias aplicables:
Aplicado para controlar la calidad del producto, como productos electrónicos, plásticos, electrodomésticos, instrumentos, alimentos, vehículos, metales, productos químicos, materiales de construcción, aeroespacial, atención médica, etc.
1. Estándar de la Comisión Electrotécnica Internacional:
IEC68-2-03_método de prueba Ca_Calor húmedo constante
IEC68-2-01_método de prueba A_frío
IEC68-2-02_método de prueba B_calor seco
2. Estándares militares:
3. Estándar industrial japonés:
JIS C60068-2-3-1987 método de prueba Ca: Calor húmedo constante
JIS C60068-2-2-1995 método de prueba B: calor seco
JIS C60068-2-1-1995 método de prueba A: baja temperatura
4. Estándar de la industria de semiconductores de EE. UU.:
JESD22-A101-B-2004 Prueba de temperatura y humedad constante
Prueba de almacenamiento a alta temperatura JESD22-A103-C-2004
JESD22-A119-2004 Prueba de almacenamiento a baja temperatura
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