인장 시험기의 민감도를 결정하는 방법을 분석하세요

만능재료시험기와 인장 시험기는 개요를 위한 인장 시험기로서 언급됩니다. 이런 종류의 장비는 다양한 금속 또는 비금속과 다양한 복합 소재를 시험하기 위해 특별히 다양한 산업을 위해 설계됩니다. 그들의 최대 실험값과 파괴 가치를 시험하고 분석하세요. 자료와 같은 교정용 계기. 그것은 인장 시험기가 다양한 산업에서 없어서는 안 되는 장비이고 따라서 인장 시험기의 력이 매우 높다고 말할 수 있습니다, 어느 것이 직접적으로 그렇게 방법 인장력의 력을 측정한 피험물체에 의한 결과의 정확도에 영향을 미칩니까?  다음에 한번 봅시다.



그것은 물질의 기술로부터 미소 변형 하에 그것이 조건을 붙인다는 것을 알려질 수 있습니다, 특정 지점에 있는 탄성 요소의 긴장 ε이 탄성 요소에 의해 경험이 풍부한 군에 비례하고 또한 탄성 변형의 도에 비례합니다. 한 예로 에스형 센서를 잡도록 합시다. 에스형 센서가 인장력 Ｐ를 받을 때, 변형 게이지는 탄성 요소의 표면에 첨부됩니다. 탄성 요소의 긴장이 외부의 힘 Ｐ에 비례하기 때문에, 변형 게이지가 측정 회로에 연결됩니다, 당신은 그것의 출력 전압을 측정하 으로 세력을 측정할 수 있습니다.
 


일반적으로 말해서, 센서의 출력 신호는 일반적으로 바른 하락세, 보통 불과 몇 mV입니다. 만약 우리가 직접적으로 이 신호를 측정하면, 그것이 매우 힘들고, 고정밀 측정을 위한 요구조건을 충족시킬 수 없습니다. 그러므로, 그것은 이 약한 신호가 확대된다는 것 이어야 하고 증폭된 신호 전압이 10V에 도달할 수 있습니다. 이번에 있는 신호는 아날로그 신호입니다, 이 아날로그 신호가 멀티플렉서와 자동 예금기 변환 칩을 통하여 디지털 신호로 변환되고 그리고 나서 자료가 처리됩니다. 이 시점에서 힘 측정은 끝납니다. 장치 위의 2 척이 있으며, 그것이 일련의 전달 기구를 통하여 측정기의 상부에 설치된 광전자의 인코더에 연결됩니다. 2번 척 변화, 광전자의 인코더의 샤프트 사이의 거리가 회전하도록 이끌 때와, 그곳의 광전자의 인코더는 펄스 신호 출력이 있을 것입니다. 신호는 단일 칩 마이크로 컴퓨터에 의해 처리되고 샘플의 변형이 획득될 수 있습니다. 타건 조작 모드, 실 시간 디스플레이는 모니터에 편리하고 빠릅니다. 빔은 견본이 고정되고, 과부하 방지와 같은 기능을 가지고 있을 때 빨리 그리고 천천히 조정될 수 있습니다.



인장 시험기는 변형과 변위와 부하의 측정과 통제에서 넓고 정확한 군 측정 범위와 로딩 속도를 가지고, 고정밀도와 력을 가지고 있습니다. 그것은 또한 등속 로딩과 등속 변형과 등속 치환의 자동 제어를 수행할 수 있습니다. 시험을 받고, 저사이클 하중 주기적 레시프로케이팅과 변형 주기적 레시프로케이팅과 치환 주기적 레시프로케이팅의 기능을 가지고 있으세요.