50×60×40cm Materiaal Gepolijst Tester Multifunctioneel Vuurvast

HZ-1728 materiaal gepolijst tester

Beschrijving voor uitrusting:

HZ-1728 Materiaal Gepolijst Tester gepolijst, dun versleten of geslepen tot de gewenste dikte van het monster.

Gepolijste oppervlaktetester
Het gebruiksmodel behoort tot een detectieapparaat, in het bijzonder tot een gepolijste oppervlaktedetector die kleine defecten en verontreinigingen op een wafeloppervlak of een wafelsuboppervlak effectief kan detecteren.
Met de snelle ontwikkeling van micro-elektronicatechnologie neemt het aantal transistors geïntegreerd op halfgeleiderwafels toe.Wetenschappers van Fairchild Semiconductor Corporation in de Verenigde Staten stelden decennia geleden al voor dat het aantal transistors dat op een bepaald gebied van wafers kan worden gefabriceerd, het aantal elke achttien maanden zal verdubbelen.In de afgelopen twee decennia heeft de vooruitgang van de integratie deze wet gevolgd en wetenschappers voorspellen dat deze wet de komende tien tot twintig jaar nog steeds zal bestaan.Daarom wordt het gebied dat door elke transistor op de wafel wordt ingenomen, steeds kleiner.Er wordt voorspeld dat in de nabije toekomst elke transistor uit slechts een dozijn of zelfs minder kristalatomen zal bestaan.Deze ontwikkelingstrend stelt strengere eisen aan de ontwikkeling en productie van halfgeleiderwafers.Kleine defecten of verontreinigingen zullen de prestaties van het apparaat ernstig aantasten en zelfs tot uitval van het apparaat leiden.Voor de ontwikkeling en productie van grootschalige en ultragrote geïntegreerde schakelingen is de eerste stap het afwijzen van wafers met kleine defecten of verontreinigingen, anders wordt de opbrengst ernstig aangetast.Daarom wordt de detectie van microdefecten en verontreiniging op het oppervlak of de ondergrond van de mechanochemisch gepolijste wafel geleidelijk een van de sleuteltechnologieën die verband houden met de kwaliteit van de gepolijste wafel van halfgeleidermaterialen en de opbrengst van de fabricage van het apparaat.Helaas is er momenteel geen apparaat dat effectief microscopisch kleine defecten en verontreinigingen op het wafeloppervlak of de ondergrond kan detecteren.
Het doel van dit gebruiksmodel is het verschaffen van een polijstoppervlakdetector, die nauwkeurig de topografie van het oppervlak en de ondergrond van het polijstoppervlak kan weergeven op een geschikt medium in de vorm van een visueel beeld, en tegelijkertijd het oppervlak en ondergrond inherent, als gevolg van verwerking en milieudefecten verschijnen in de afbeelding.De materialen die het kan detecteren, zijn over het algemeen metalen, halfgeleidermaterialen en andere vaste stoffen met vergelijkbare eigenschappen.
Zoals hierboven bedacht, is het technische schema van het huidige gebruiksmodel: een gepolijste oppervlaktedetector, die wordt gekenmerkt doordat deze is samengesteld uit een chassis, een besturingsapparaat, een lichtbronapparaat geplaatst in het chassis, een monstertransportapparaat, een beeldvormingsscherm en een camera-apparaat;waarbij de monstertransportinrichting is samengesteld uit: De inrichting is verbonden met de monstertransportbesturingsschakeling;het beeldvormingsapparaat is verbonden met het beeldbesturingscircuit;het besturingscircuit omvat een versterkings-, brandpuntsafstand-, apertuurbesturingscircuit en een translatietrapbesturingscircuit;de invoeruiteinden van de bovenstaande besturingscircuits zijn allemaal verbonden met de uitvoer van het besturingsapparaat in het besturingsapparaat Eindverbinding: Het uitvoeruiteinde van het camera-apparaat is verbonden met het invoeruiteinde van de monitor.

Technische parameters: