50×60×40cm Malzeme Cilalı Test Cihazı Çok Fonksiyonlu Yanmaz

HZ-1728 Malzeme Cilalı Test Cihazı

Ekipman açıklaması:

HZ-1728 Malzeme Cilalı Test Cihazı parlatılmış, aşınmış ince veya gerekli kalınlıktaki numuneyi öğütür.

Cilalı Yüzey Test Cihazı
Faydalı model, bir algılama cihazına, özellikle bir gofret yüzeyindeki veya bir gofret alt yüzeyindeki küçük kusurları ve kirlenmeyi etkili bir şekilde tespit edebilen cilalı bir yüzey detektörüne aittir.
Mikroelektronik teknolojisinin hızla gelişmesiyle birlikte yarı iletken levhalar üzerine entegre edilmiş transistörlerin sayısı artıyor.Amerika Birleşik Devletleri'ndeki Fairchild Semiconductor Corporation'dan bilim adamları, on yıllar önce, gofretlerin belirli bir alanında üretilebilecek transistör sayısının on sekiz ayda bir ikiye katlanacağını öne sürdüler.Son yirmi yılda, entegrasyonun ilerlemesi bu yasayı takip etti ve bilim adamları, bu yasanın önümüzdeki on ila yirmi yıl içinde hala var olacağını tahmin ediyor.Bu nedenle, gofret üzerindeki her bir transistörün işgal ettiği alan küçülür ve küçülür.Yakın gelecekte her bir transistörün yalnızca bir düzine hatta daha az kristal atomundan oluşacağı tahmin ediliyor.Bu gelişme eğilimi, yarı iletken plakaların geliştirilmesi ve üretimi için daha katı gereksinimler ortaya koydu.Küçük kusurlar veya kirlenme, cihazın performansını ciddi şekilde etkileyecek ve hatta cihazın arızalanmasına neden olacaktır.Büyük ölçekli ve ultra büyük ölçekli entegre devrelerin geliştirilmesi ve üretimi için ilk adım, küçük kusurlu veya kirli gofretleri reddetmektir, aksi takdirde verim ciddi şekilde etkilenecektir.Bu nedenle, mekanokimyasal olarak parlatılmış gofretin yüzeyindeki veya altındaki mikro kusurların ve kontaminasyonun tespiti, yarı iletken malzemelerden parlatılmış gofretin kalitesi ve cihaz üretiminin verimi ile ilgili önemli teknolojilerden biri haline geliyor.Ne yazık ki, şu anda gofret yüzeyindeki veya yüzey altındaki mikroskobik kusurları ve kontaminasyonu etkili bir şekilde tespit edebilen bir cihaz yoktur.
Bu faydalı modelin amacı, parlatma yüzeyinin topoğrafyasını ve parlatma yüzeyinin altını uygun bir ortam üzerinde görsel bir görüntü şeklinde doğru bir şekilde görüntüleyebilen ve aynı zamanda yüzey ve yüzey altı doğal, işleme ve çevresel kusurlar nedeniyle görüntüde görünür.Tespit edebildiği malzemeler genellikle metalleri, yarı iletken malzemeleri ve benzer özelliklere sahip diğer katı maddeleri içerir.
Yukarıda tasavvur edildiği üzere, mevcut faydalı modelin teknik şeması şöyledir: cilalı bir yüzey detektörü olup, karakterize edici özelliği bir şasi, bir kontrol cihazı, şasiye yerleştirilmiş bir ışık kaynağı cihazı, bir numune taşıma cihazı, bir görüntüleme ekranı ve bir kamera cihazı;burada numune taşıma cihazı şunlardan oluşur: Cihaz, numune taşıma kontrol devresine bağlıdır;görüntüleme cihazı, görüntüleme kontrol devresi ile bağlantılıdır;kontrol devresi, bir amplifikasyon, odak uzaklığı, açıklık kontrol devresi ve bir öteleme aşaması kontrol devresi içerir;yukarıdaki kontrol devrelerinin giriş uçlarının tümü, kontrol cihazındaki kontrol cihazının çıkışına bağlıdır Uç bağlantı: Kamera cihazının çıkış ucu, monitörün giriş ucuna bağlanır.

Teknik parametreler: