50×60×40cm উপাদান পালিশ পরীক্ষক বহুমুখী ফায়ারপ্রুফ

HZ-1728 উপাদান পালিশ পরীক্ষক

সরঞ্জাম বর্ণনা:

HZ-1728 উপাদান পালিশ পরীক্ষক পালিশ, পাতলা ধৃত বা নমুনার প্রয়োজনীয় বেধ পিষে.

পালিশ সারফেস টেস্টার
ইউটিলিটি মডেলটি একটি সনাক্তকরণ যন্ত্রের অন্তর্গত, বিশেষ করে একটি পালিশ করা পৃষ্ঠ আবিষ্কারক যা কার্যকরভাবে একটি ওয়েফার পৃষ্ঠ বা একটি ওয়েফার সাবসারফেসে ক্ষুদ্র ত্রুটি এবং দূষণ সনাক্ত করতে পারে।
মাইক্রোইলেক্ট্রনিক্স প্রযুক্তির দ্রুত বিকাশের সাথে, সেমিকন্ডাক্টর ওয়েফারগুলিতে সংহত ট্রানজিস্টরের সংখ্যা বাড়ছে।মার্কিন যুক্তরাষ্ট্রের ফেয়ারচাইল্ড সেমিকন্ডাক্টর কর্পোরেশনের বিজ্ঞানীরা কয়েক দশক আগে প্রস্তাব করেছিলেন যে ওয়েফারের একটি নির্দিষ্ট অঞ্চলে যে ট্রানজিস্টর তৈরি করা যেতে পারে তার সংখ্যা প্রতি আঠারো মাসে দ্বিগুণ হবে।বিগত দুই দশকে, একীকরণের অগ্রগতি এই আইন অনুসরণ করেছে, এবং বিজ্ঞানীরা ভবিষ্যদ্বাণী করেছেন যে এই আইনটি পরবর্তী দশ থেকে বিশ বছরেও বিদ্যমান থাকবে।অতএব, ওয়েফারের প্রতিটি ট্রানজিস্টরের দ্বারা দখলকৃত এলাকা ছোট এবং ছোট হয়ে যায়।এটি ভবিষ্যদ্বাণী করা হয় যে অদূর ভবিষ্যতে, প্রতিটি ট্রানজিস্টর মাত্র এক ডজন বা তার চেয়ে কম ক্রিস্টাল পরমাণু দ্বারা গঠিত হবে।এই বিকাশের প্রবণতাটি সেমিকন্ডাক্টর ওয়েফারগুলির বিকাশ এবং উত্পাদনের জন্য কঠোর প্রয়োজনীয়তাগুলিকে এগিয়ে দিয়েছে।ছোট ত্রুটি বা দূষণ ডিভাইসের কার্যক্ষমতাকে মারাত্মকভাবে প্রভাবিত করবে এবং এমনকি ডিভাইসটিকে ব্যর্থ করে দেবে।বড় আকারের এবং অতি-বড়-স্কেল সমন্বিত সার্কিটগুলির বিকাশ এবং উত্পাদনের জন্য, প্রথম পদক্ষেপটি হল ছোট ত্রুটি বা দূষণ সহ ওয়েফারগুলি প্রত্যাখ্যান করা, অন্যথায় ফলন মারাত্মকভাবে প্রভাবিত হবে।অতএব, মেকানকেমিক্যালি পালিশ করা ওয়েফারের পৃষ্ঠ বা পৃষ্ঠে মাইক্রো-অপূর্ণতা এবং দূষণ সনাক্তকরণ ধীরে ধীরে সেমিকন্ডাক্টর উপকরণের পালিশ করা ওয়েফারের গুণমান এবং ডিভাইস উত্পাদনের ফলন সম্পর্কিত মূল প্রযুক্তিগুলির মধ্যে একটি হয়ে উঠছে।দুর্ভাগ্যবশত, বর্তমানে এমন কোনো যন্ত্র নেই যা কার্যকরভাবে ওয়েফার পৃষ্ঠ বা উপতলের মাইক্রোস্কোপিক ত্রুটি এবং দূষণ সনাক্ত করতে পারে।
এই ইউটিলিটি মডেলের উদ্দেশ্য হল একটি পলিশিং সারফেস ডিটেক্টর প্রদান করা, যা একটি ভিজ্যুয়াল ইমেজের আকারে উপযুক্ত মাধ্যমে পৃষ্ঠের টপোগ্রাফি এবং পলিশিং সারফেসকে সঠিকভাবে প্রদর্শন করতে পারে এবং একই সাথে পৃষ্ঠ এবং সাবসারফেস সহজাত, প্রক্রিয়াকরণ এবং পরিবেশগত ত্রুটির কারণে চিত্রটিতে উপস্থিত হয়।এটি যে উপকরণগুলি সনাক্ত করতে পারে তার মধ্যে সাধারণত ধাতু, অর্ধপরিবাহী উপকরণ এবং অনুরূপ বৈশিষ্ট্য সহ অন্যান্য কঠিন পদার্থ অন্তর্ভুক্ত থাকে।
উপরে যেমন ধারণা করা হয়েছে, বর্তমান ইউটিলিটি মডেলের প্রযুক্তিগত স্কিম হল: একটি পালিশ করা পৃষ্ঠ আবিষ্কারক, যার বৈশিষ্ট্য হল এটি একটি চ্যাসিস, একটি নিয়ন্ত্রণ যন্ত্র, চ্যাসিসে রাখা একটি আলোর উৎস ডিভাইস, একটি নমুনা বহনকারী ডিভাইস, একটি ইমেজিং পর্দা, এবং একটি ক্যামেরা ডিভাইস;যেখানে স্যাম্পল কনভেয়িং ডিভাইসের সমন্বয়ে ডিভাইসটি নমুনা কনভেয়িং কন্ট্রোল সার্কিটের সাথে সংযুক্ত থাকে;ইমেজিং ডিভাইসটি ইমেজিং কন্ট্রোল সার্কিটের সাথে সংযুক্ত;কন্ট্রোল সার্কিটে একটি পরিবর্ধন, ফোকাল লেন্থ, অ্যাপারচার কন্ট্রোল সার্কিট এবং একটি ট্রান্সলেশন স্টেজ কন্ট্রোল সার্কিট রয়েছে;উপরের কন্ট্রোল সার্কিটগুলির ইনপুট প্রান্তগুলি সমস্ত নিয়ন্ত্রণ ডিভাইসের আউটপুটের সাথে সংযুক্ত থাকে কন্ট্রোল ডিভাইসের শেষ সংযোগ: ক্যামেরা ডিভাইসের আউটপুট প্রান্তটি মনিটরের ইনপুট প্রান্তের সাথে সংযুক্ত থাকে।

প্রযুক্তিগত পরামিতি: